Ermöglicht die Ursachenanalyse von tiefen Materialfehlern: zerstörungsfrei, flexibel und präzise
Hohe Temperaturen zur Untersuchung von tiefen Defekten
Maßgeschneiderte Laser- und Optikintegration für alle Ihre Materialien
Vollständig automatisierte temperaturabhängige Messungen
Materialien
HTpicts ist auf tiefe Defekte in Halbleitern mit großer Bandlücke spezialisiert
SiC GaN AIN Ga₂O₃ Diamond and more
Eigenschaften & Vorteile
355-1550 nm
Verfügbare Wellenlängen
10 ns
Zeitauflösung
300-800 K
Temperaturbereich
Umfassend
Analyse
Umfangreiches Softwarepaket