Steffen Fengler et al. Effektive Absorptionsquerschnitte von Defekten in Diamanten unter hohem Druck und hoher Temperatur, untersucht mittels modulierter Oberflächen-Photospannungsspektroskopie, Phys. Status Solidi A 2025
A.S. Kovali, M. Demant, B. Rebba, N. Schüler, J. Haunschild, S. Rein
Frühzeitige Qualitätsbewertung von Siliziumblöcken anhand der MDP-Brick-Charakterisierung
Jan Beyer, Nadine Schüler, Jürgen Erlekampf, Birgit Kallinger, Patrick Berwian, Kay Dornich, Johannes Heitmann
Messungen der Minoritätsladungsträgerlebensdauer an 4H-SiC-Epitaxiescheiben mittels zeitaufgelöster Photolumineszenz und mikrowellendetektierter Photoleitfähigkeit
Paul M. Jordan, Daniel K. Simon, Franz P.G. Fengler, Thomas Mikolajick und Ingo Dirnstorfer
2D-Kartierung der chemischen und feldinduzierten Passivierung von Al₂O₃ auf Si-Substraten
Paul M. Jordan, Daniel K. Simon, Thomas Mikolajick und Ingo Dirnstorfer
BiasMDP: Technik zur Charakterisierung der Ladungsträgerlebensdauer unter angelegter Vorspannung
N. Schüler, B. Berger, A. Blum, K. Dornich, J.R. Niklas
Hochauflösende Inline-Topographie von Eisen in P-dotierten multikristallinen Ziegeln mittels MDP
K. Dornich, N. Schüler, J.R. Niklas
Injektionsabhängige Lebensdauerspektroskopie mit variierender Pulslänge
K. Dornich, N. Schüler, B. Berger, J.R. Niklas
Schnelle, hochauflösende, kontaktlose Inline-Charakterisierung von Halbleitern für photovoltaische Anwendungen mittels MDP
Bastian Berger, Nadine Schüler, Sabrina Anger, Bianca Gründig-Wendrock, Jürgen R. Niklas, Kay Dornich
Berührungslose elektrische Defektcharakterisierung in Halbleitern mittels mikrowellendetektierter photoinduzierter Stromtransientenspektroskopie (MD-PICTS) und mikrowellendetektierter Photoleitfähigkeit (MDP)
N. Schüler, T. Hahn, K. Dornich und J.R. Niklas:
Räumlich aufgelöste Bestimmung von Einfangparametern in P-dotiertem Silizium mittels mikrowellendetektierter Photoleitfähigkeit
25. EUPVSEC Valencia, Spanien
N. Schüler, D. Mittelstrass, K. Dornich und J.R. Niklas:
Hochauflösende Inline-Erfassung von Änderungen des Leitungstyps in multikristallinem Silizium mittels kontaktloser Photoleitfähigkeitsmessungen
35. IEEE Photovoltaic Specialists Conference, Honolulu, Hawaii
N. Schüler, D. Mittelstrass, K. Dornich, J.R. Niklas und H. Neuhaus:
Inline-Messtechnik der nächsten Generation zur Bestimmung der Minoritätsladungsträgerlebensdauer an multikristallinen Siliziumblöcken für die Photovoltaik
35. IEEE Photovoltaic Specialists Conference, Honolulu, Hawaii
N. Schüler, T. Hahn, K. Dornich, J.R. Niklas:
Vielseitiges Simulationswerkzeug und neuartige Messmethode zur elektrischen Charakterisierung von Halbleitern
Solid State Phenomena 156–158, 241–246 (2010)
N. Schüler, T. Hahn, S. Schmerler, S. Hahn, K. Dornich und J.R. Niklas:
Simulationen der Photoleitfähigkeit und Lebensdauer für stationäre und instationäre Messungen
, Journal of Applied Physics 107 (2010), 064901
N. Schüler, T. Hahn, K. Dornich, J.R. Niklas, B. Gründig-Wendrock:
Theoretischer und experimenteller Vergleich kontaktloser Lebensdauermessverfahren für dicke Siliziumproben
Solar Energy Materials & Solar Cells 94 (2010), 1076–1080
K. Dornich, N. Schüler, D. Mittelstraß, A. Krause, B. Gründig-Wendrock, K. Niemietz und J.R. Niklas:
Neue räumlich aufgelöste Inline-Messtechnik für multikristallines Silizium für PV
(erscheint in den Tagungsberichten der 24. EU PVSEC)
S. Schmerler, T. Hahn, S. Hahn, J.R. Niklas, B. Gründig-Wendrock:
Erklärung positiver und negativer PICTS-Peaks in SI-GaAs
J. Mater Sci: Mater Electron
T. Hahn, S. Schmerler, S. Hahn, J.R. Niklas:
Interpretation von Lebensdauer- und Defektspektroskopiemessungen mittels verallgemeinerter Raten-Gleichungen
J. Mater Sci: Mater Electron (2008) 19:S79-S82
K. Niemietz, K. Dornich, M. Gosh, A. Müller, J.R. Niklas
: Kontaktlose Untersuchung der elektrischen Eigenschaften und Defektspektroskopie von mc-Si bei niedrigem Injektionsniveau
. 21. Europäische Photovoltaik-Solarenergiekonferenz, S. 361–364
K. Dornich, K. Niemietz, Mt. Wagner, J.R. Niklas
Kontaktlose elektrische Defektcharakterisierung von Silizium mittels MD-PICTS
Material Science in Semiconductor Processing, Elsevier, 241-245
S. Hahn, Franziska Christine Beyer, Andreas Gällström, Patrick Carlsson, Anne Henry, Björn Magnusson, J.R. Niklas, Erik Janzén
Kontaktlose elektrische Defektcharakterisierung von halbisolierendem 6H-SiC-Volumenmaterial
Mater. Sci. Forum 600–603, 405 (2009).
S. Hahn, K. Dornich, T. Hahn, A. Köhler, J.R. Niklas, P. Schwesig, G. Müller