Die Oberflächen-Photospannungsspektroskopie (SPS/SPV) ist eine bewährte Technik zur Analyse von Volumen-, Grenzflächen- und oberflächenbezogenen Eigenschaften in elektrooptischen Materialien. Da diese Technik bislang auf spezialisierte Labore beschränkt war, sind kommerzielle SPV-Lösungen nach wie vor rar und oft auf Nischenanwendungen beschränkt.
Die HR-SPS-Plattform von Freiberg Instruments definiert die Materialcharakterisierung neu – mit hochauflösender, berührungsloser Analyse für praktisch jedes elektrooptische Material, von pulverbasierten Proben über Nanopartikelstrukturen bis hin zu 300-mm-Siliziumwafern. Sie wurde sowohl für die Produktion als auch für die Forschung entwickelt und ermöglicht schnelle, präzise Bewertungen für die Fertigung und Materialinnovation.
Mit Anwendungsbereichen, die von der Defektcharakterisierung in Halbleitern (Silizium, Siliziumkarbid und Halbleiter mit großer Bandlücke wie Galliumoxid und Diamant) über die Analyse der Ladungsdynamik in Photokatalysatoren (Kupferoxid und Titanoxid) bis hin zu weiteren Bereichen reichen, bringt HR-SPS beispiellose Vielseitigkeit und Effizienz in die SPV-Analyse.
