Ermöglicht fortschrittliche Materialforschung für dünne Schichten und Oberflächen: zerstörungsfrei, flexibel und schnell
Hochsensibel durch ein fortschrittliches elektronisches Detektionssystem
Maßgeschneiderte Laser und Optiken für bis zu 4 verschiedene Wellenlängen
Automatische temperaturabhängige Messung und/oder Glühschritte für bis zu 25 Proben
Materialien
Die SPSmap Heat-Serie bietet eine vielseitige Auswahl an leistungsstarken Lasern und ermöglicht die elektrische Charakterisierung nahezu aller Halbleiter
Perovskite Si SiC Ge GaAs InP Ga₂O₃ Diamond
Eigenschaften & Vorteile
355...1550 nm
Verfügbare Wellenlängen
0,1 mm
Räumliche Auflösung
10 ns
Zeitauflösung
Bis zu
25 Proben
Automatische Mess- und Heizsequenz
Anwendungen
Technische Daten
| Probengröße | Wafer oder dünne Platten mit einer Dicke von bis zu 25 mm, 5 x 5 mm² bis 160 x 160 mm, quadratische Wafer |
|---|---|
| Anregung | Auswahl von bis zu vier verschiedenen Wellenlängen von 337 nm bis 1550 nm (Standard 980 nm) |
| Material | Perowskit oder jedes andere photoaktive Material (kontaktieren Sie uns für eine Beratung zu Ihrem Material) |
| Messbar | Zeitaufgelöste und temperaturabhängige Messungen der Oberflächen-Photospannung |
| Abmessungen | 750 x 835 x 660 mm |
| Gewicht | ca. 120 kg |
| Leistung | 100–250 V, 50/60 Hz, 5 A |
| Auflösung | 100 µm |
