创新解决方案,助力您攻克自动化与计量难题

我们提供尖端计量解决方案,专为攻克自动化与材料表征领域的复杂难题而生;

先进的系统设备,为多个高科技行业提供精准、高效、可靠的保障。

晶体生长与加工

晶体定向与加工,精度无与伦比

我们的先进 X 射线衍射(XRD)系统可优化研磨与切割工艺,为高性能半导体应用提供完美的晶体定向保障。

发现

外延层及薄膜材料

通过精确的薄膜表征,确保半导体前端工艺的最高标准。

我们的非破坏性计量工具可提供关于晶圆特性、膜厚及缺陷检测的关键信息。

发现

光伏

行业领先计量方案,助力太阳能电池效率最大化

我们的先进设备支持晶圆与薄膜的高速、高精度分析,保障最优良率与生产性能。

发现

释光测年及剂量测定

为科研人员提供高精度释光测年工具,助力年代测定与辐射暴露评估研究

我们的仪器在地质年代学与剂量学应用中,具备无与伦比的灵敏度与可靠性。

发现

辐射监测

利用尖端的辐射探测系统,提升工作场所与环境安全水平。

我们的解决方案提供实时监测,确保在关键工业和研究环境中的合规性与安全防护。

发现

研发

借助为研发应用量身定制的灵活、高精度测量解决方案,加速创新。

我们的先进计量工具以最高精度支持材料研究、半导体开发和缺陷分析。

发现

研发项目

将前瞻构想,转化为可量化的成功。

我们的研发项目汇聚尖端技术与开创性合作 —— 无论是与顶尖科研机构的联合研究,还是面向高科技行业的前沿探索。

发现

我们的先进计量解决方案,助力全行业提升效率、检测缺陷、驱动创新,为半导体制造、光伏、材料研究领域的卓越发展保驾护航。

Ing. Thanga Kumar
销售总监

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