微波探测光电导仪

µPCD/MDP(QSS) - 用于研究和生产的高分辨率、非接触式测量解决方案，让您深入了解材料：MDP 系列

依托成熟先进的微波技术，可直观呈现半导体品质。该技术能够以量产级速度，对半导体核心电参数开展非接触式面扫描检测。 

针对少子寿命、光电导率、电阻率及缺陷状态等参数进行面扫描检测时，设备在空间分辨率、检测灵敏度与测试速度上实现了业内领先的综合性能。

MDP 系列产品涵盖定制模块到一站式整套设备系统，可灵活适配各类作业流程，助力微电子与光伏领域持续技术创新。