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成熟可靠的 Omega-scan检测法

  • 所有测量都是自动进行的,可通过用户友好的软件界面进行访问

  • 使用Omega Scan,可在晶体旋转时(5 秒)确定完整的晶格取向

  • Theta 扫描更为灵活,但每次扫描只能得到一个方向分量

材料

我们的Omega/Theta XRD系统能够对各类材料进行精确分析。这些系统设计灵活且性能卓越,能够轻松满足行业中最严苛的要求。

Si SiC AIN GaAs Quartz LiNbO₃ BBO and more

特性与优势

< 5 秒/样品

测量速度

最多
450 mm

样品尺寸

0.1 arc sec

衍射仪的角分辨率

超快

晶体取向测量

超快

晶体取向测量

单晶衍射仪

  • 全自动单晶完整晶格取向测量

  • 采用成熟 Omega Scan法,实现超高速晶向检测

  • 全自动摇摆曲线测试功能

  • 衍射仪角分辨率:0.1 arc sec

  • 支持最大 450 mm样品尺寸

  • 兼顾量产质检与科研测试场景

操作简便且经济实惠

  • 样品处理便捷,操作简单

  • 先进且用户友好的软件

  • 能耗低,运行成本低

模块化设计,灵活多变

  • 多种升级选项

  • 可根据用户需求进行定制


成熟的Omega-scan方法

Omega/Theta X射线衍射仪是一款全自动垂直三轴衍射仪,采用Omega-Scan和Theta-Scan方法以及摇摆曲线测量技术,用于测定各种晶体的取向。其宽敞的设计可容纳长度达450 mm、重量达30 kg的样品及样品架。

所有测量均实现自动化,并可通过用户友好的软件界面进行操作。利用Omega-Scan法,仅需一次晶体旋转(5秒)即可测定完整的晶格取向。Theta扫描法更为灵活,但每次扫描仅能获得一个取向分量。

倾斜角可被极高精度地测定;使用Theta-Scan时精度可达0.001°。对于所有其他晶体方向,精度取决于与表面垂直线的角度差。

该系统采用模块化设计,并配备了多种用于特殊用途的扩展组件,例如形状或平整度测定、映射以及各类样品夹具。样品倾斜度通过光学测量检测,可用于校正所得取向结果。

  • 最高精度

  • 测量速度:< 5 秒/样本

  • 易于集成到生产线上

  • MES 和/或 SECS/GEM 接口

  • 典型标准偏差倾角(示例:Si 100): < 0.003 °,最小 < 0.001 °

Omega/Theta XRD - 通过马尔文实验室独家提供

本产品由我们的可信赖合作伙伴负责分销。

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配件与选项

更多选择

  • 激光扫描仪,用于样品外形轮廓测量

  • 工业相机搭配图像处理算法,实现平边与定位缺口识别

  • 增设样品旋转轴,支持三维晶向图谱测绘

  • 二级通道切割准直器(分析晶体)

  • 样品姿态调节机构

Omega/Theta XRD - 通过马尔文实验室独家提供

本产品由我们的可信赖合作伙伴负责分销。

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