成熟可靠的 Omega-scan检测法
所有测量都是自动进行的,可通过用户友好的软件界面进行访问
使用Omega Scan,可在晶体旋转时(5 秒)确定完整的晶格取向
Theta 扫描更为灵活,但每次扫描只能得到一个方向分量
材料
我们的Omega/Theta XRD系统能够对各类材料进行精确分析。这些系统设计灵活且性能卓越,能够轻松满足行业中最严苛的要求。
Si SiC AIN GaAs Quartz LiNbO₃ BBO and more
特性与优势
< 5 秒/样品
测量速度
最多
450 mm
样品尺寸
0.1 arc sec
衍射仪的角分辨率
超快
晶体取向测量






