Omega-scan

Omega-Scan技术涉及沿特定轴（如表面法线）将样品旋转360°。X射线源和探测器的位置根据晶体类型进行调整，以确保每转一圈获得最佳的反射次数。通过分析这些反射的角位置，可以确定晶格取向相对于旋转轴的位置。

为精确对齐晶格取向与晶体表面，需利用激光束检测表面方向。其他相关的参考平面或方向也可通过光学工具进行测量。该技术能够对任何构型的单晶进行精确的取向测量，测量重复性可达几角秒以内——通常仅需几秒钟即可完成测量。

Omega-Scan方法的一项特殊应用是精密晶格参数测定，尤其适用于立方晶体，可提供高度精确的结构信息。