柏林亥姆霍兹研究中心开发的一项获得专利的光学概念，现已发展成为一款可投入市场的测量解决方案。弗莱贝格仪器公司与该研究团队紧密合作，将这款创新的双棱镜单色仪转化为紧凑型DPM100——为在极其宽广的光谱范围内对半导体材料进行精确表征开辟了新的可能性。
电力电子、光伏、LED、传感器和光催化等现代技术，都依赖于具有日益多样化带隙的半导体材料。这些技术的开发需要能够将光子能量从近红外连续调节至深紫外的光源。
传统的衍射光栅单色仪可能需要使用多种不同的光栅才能覆盖这一波长范围。 DPM100 采用基于熔融石英棱镜的无镜光学系统，可在 0.4 至 7.3 eV（相当于 170 至 3,100 nm）范围内连续调节波长，且无需中断或更换光学元件。
该系统将如此宽的光谱覆盖范围与 2 至 100 meV 的分辨率以及超过八个数量级的杂散光抑制能力相结合。 这使其特别适合检测和分析宽带隙及超宽带隙半导体（如碳化硅、氧化镓、氮化镓和金刚石）中的缺陷态。
该系统的基础技术由柏林亥姆霍兹中心（Helmholtz-Zentrum Berlin）的 Thomas Dittrich 博士领导的团队与 HEREON 合作开发。Freiberg Instruments 凭借其在测量技术和系统开发方面的专业知识，协助实现了首个原型机的研制，并将这一获得专利的概念转化为可用于实际应用的可靠产品。
如今，DPM100使研究人员和工业用户能够通过单次连续测量来探究光电子和光学材料的特性。其应用范围涵盖从基础材料研究和下一代半导体开发，到工艺开发和工业质量控制。
从科学创新到批量生产的成功转化，充分证明了科研与产业之间的紧密合作如何能够加速技术进步，并将新的测量理念转化为切实可行的解决方案。
如需进一步了解该产品的开发与技术转移情况，请阅读柏林亥姆霍兹中心（Helmholtz-Zentrum Berlin）的出版物。