配置选项

全自动软件控制探测器切换装置，最多支持 4 种探测器（标准 PMT、红光增强 PMT、EMCCD、光谱探测单元等），可在 TL/OSL 测量位、RF（β 辐照）位之间自动切换   

低温条件用于辐射缺陷表征。该系统能够将样品温度稳定维持在-40 °C至-50 °C之间，同时可在数秒内自动切换至高温条件，最高可加热至710 °C。最低温度：约 -50 °C, 推荐最低温度：-40 °C, -40 °C 可稳定维持 > 60 分钟, 冷却可与辐照、OSL、TL、RF、太阳模拟等工艺结合使用 , 注：Peltier 制冷单元需配备真空泵及氮气填充

与标准 IRSL 相比，钾长石的 IRPL 信号被认为可能不存在衰退，或者至少受衰退影响要小得多（Prasad et al. 2017）。此外，IRPL 具有更大的剂量范围，因此可用于老样品的测年。 lexsyg TL/OSL测量仪中实现了所需的脉冲激发以及对两种发射波长（880 nm 和 955 nm）的检测，由于其非破坏性测量特性，可实现极高精度的测量。但并非所有样品都显示出 955…

该模块可对长石样品的矿物组成进行估判，估算钾长石/钠长石/钙长石（K‑/Na‑/Ca‑feldspar）的相对比例，并可判断是否存在石英混染。  XRF装置由以下部分组成：,   Amptek X-123 硅漂移探测器（SDD）完整 X 射线光谱仪Amptek MINI-X USB 控制型 X 射线管, XRF分析软件扩展：,…

UV至NIR（200–1050 nm）图像检测，用于空间分辨/单颗粒测量, 可在TL/OSL或RF测量位置运行, 512 × 512像素背照式、UV镀膜EMCCD芯片（电子倍增技术），16位分辨率，帧转移格式, 也可在传统CCD模式下工作（低噪声）, 最高帧率：> 33 帧/秒（全帧）, 千兆以太网数据接口,…

样品相机设计用于在发光测量后自动记录样品的外观。 例如：释光数据采集后进行目视检查, 利用图像分析确定颗粒数量、覆盖面积、粒径分布、颜色分布等, 相机安装在一个真空密封、避光密封的机械固定装置中，该装置还包含一个漫反射照明系统，以确保为被拍摄样品提供适当的白光照明。  相机技术参数：, TheImagingSource 1/2.5英寸 Micron CMOS…

OE-CCD的高灵敏度光谱检测单元（推荐用于红外光谱）, 光纤耦合CCD荧光光谱仪, 半导体制冷（最低-80 °C）CCD探测器，波长范围200–1050 nm，16位数字化, 光栅更换和波长重新校准简便，可选择单个光栅, 功能强大的光谱分析软件, 可集成到 Lexsyg 测量控制软件中,  BU-CCD 的高灵敏度光谱检测单元（推荐用于紫外光谱）, 1024 x 255 像素，26…

特点, 基于大功率LED阵列的光源辐照器，风冷散热, 软件控制（功率、辐照时间、可支持多波长混合比例调节）, 可在测量序列内更改设置, 特殊光学设计，确保样品处辐照功率均匀, 支持高温条件下晒退。, LED 晒退 / 太阳光模拟器参数, 波长：365 nm、462 nm、523 nm、590 nm、625 nm、850 nm, 可用于单色光样品辐照，或单独混合以模拟各种晒退条件,…

用于释光寿命基础研究以及通过脉冲激发分离不同寿命发光信号的模块。  激光二极管规格：, 上升/下降时间：< 10 ns, 开启时间：50 ns 至连续波, 瞬态检测系统：, 时间步长：2.5 ns 至 1 s, 时间点精度：< 50 ps, 可选对数时间标度，覆盖7个数量级（可同时测量极短和极长时间瞬态过程）, 测量系统在150 MHz以下计数率无限制,