您在寻找什么?
可使现有设备满足 200 mm、300 mm 硅锭高端晶向偏差与定位Notch精度指标要求
可让现有设备达到高端晶向偏差与定位Notch精度规格要求
全产线适配型晶圆晶向分布在线mapping检测方案
适用于高速晶体晶向检测、量产工况下晶体定位校准、品质管控、摇摆曲线测试、材料科研等多种场景。
整机结构紧凑,可从底面完成超高速晶体晶向检测
超快端面测量晶体取向,采用紧凑型封装
全自动在线式晶锭、晶棒与硅片坯定向及上下料处理系统
全自动晶圆、种子晶圆和单晶棒质量控制与分选多功能计量设备
石英棒、晶片和坯料的生产与质量控制
该产品即将推出
高精度电阻率Mapping系统 精准实现材料分析
超越极限的精度:面向电阻率测量的下一代太赫兹Mapping技术
高精度少子寿命表征,检测灵敏度出众
简易快速完成少子寿命检测
多功能定制化设备,用于测量硅样品(从硅砖到加工晶片)的少子寿命
用于半导体质量控制和材料研发的先进寿命测量系统
先进的单晶硅锭、硅砖和硅片质量控制解决方案
变温少子寿命测试系统,用于高端材料分析
高精度变温少子寿命测试系统,用于材料精准表征
高端高温少子寿命测试系统,用于深度材料性能分析
基于热释电效应测定晶体表面极性便携式检测系统
高分辨率、高灵敏度的表面光电电压测量解决方案
配备可调能量激发光源
专为集成到手套箱中而设计,可加热至 100°C,高分辨率,高灵敏度表面电压测量
宽波段双棱镜单色仪
专为智能生产环境设计的GWh级电池化成与测试方案
中试规模电池化成与测试:智能、测量驱动的过程控制
集成传感 + 先进充电控制,打造测量驱动的智能化电池化成
双面 PERC/PERC+、HIT、Topcon、晶体硅太阳能电池、迷你模块等的质量控制解决方案
超高灵敏度 TL/OSL 测量仪
业界领先 TL/OSL 测量仪
便携式OSL读数仪,可高效读取与擦除适配的个人辐射剂量计
业界领先的个人剂量OSL系统
Freiberg Instruments新型热释光测量仪
非破坏性释光 岩芯剖面分析新方法
符合 EN 13751:2009 标准,可用于辐照食品检测
台式X射线辐照机
用于CTA读出的PC控制式剂量测量设备,符合ISO/ASTM标准及FDA CFR 21第11部分规定
用于极端工况下高精度吸附测量的磁悬浮天平
全自动高灵敏度拉曼传感器,用于聚合物与半导体分选
辐射污染监测仪
用于运输容器测量的空间分辨探测器杆
高量程剂量率仪
便携式设备,配备 50 mm PIPS 探测器,浓度计算符合 ISO 11929 标准
伽马辐射监测仪
适用于 lexsyg smart
lexsyg TL/OSL 测量仪最多可配备 2 个辐照单元;采用传感器控制的气动机械快门,实现可重复、简便、安全的运行。
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陶瓷加热元件可实现高可靠性且更一致的测量。加热元件通过持续流动的氮气或压缩空气进行冷却。在加热/冷却循环的任何阶段,均可进行热释光(TL)、预热(PH)以及高温释光测量(OSL、RL等),还包括高温辐照(在电离辐照位置和“晒退”位置)。加热/冷却循环可自由编程,支持非线性升降温功能。升温速率:0.1 – 20.0 °C/s(最高温度可达710°C),…
lexsyg smart/lexsyg research 全系列 TL/OSL 测量仪均可选配可更换 OSL 单元,最高支持 3 种激发波长,采用高功率 LED / 激光二极管激发;内置光电二极管实时功率反馈,激发源稳定不受元件老化影响。
根据 Chruścińska 等人(2018)以及 Palczewski & Chruścińska(2019)的研究,采用 620nm 波长激发石英,可在热光协同激发(TM-OSL)模式下实现快速 OSL 组分的分离。目前lexsyg TL/OSL测量仪已支持 620nm 红光 OSL 测量功能。 Chruścińska, A. Szramowski, A. Thermally…
滤光轮含配套适配滤光片,经过优化可最大化收集释光信号,最大程度抑制杂散光(OSL、PL)与热释光(TL),是测年及其他应用中实现最优 TL/OSL/RF 分析的推荐基础配置。 光学系统专为光电倍增管(PMT)释光测量的高效率光收集设计;, 测量期间可编程切换检测窗口(滤光片切换时间300 ms至最长3 s), 滤光片选择由软件根据所选激发波长进行限制,从而防止误操作(过曝光),…
标准UV-VIS PMT检测单元(280–650 nm), 适用于释光测年和剂量学应用的标准检测单元, 双碱阴极PMT(HAMAMATSU H7360-02), 灵敏度范围:300–650 nm, 峰值灵敏度:420 nm(3.1×10⁵ counts·s⁻¹·pW⁻¹), 暗计数典型值 <100 cts, 光子计数器, 计数线性度(随机脉冲,10% 损耗)6.0×10⁶ cps,…
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