微波光电导衰减法（MPD）与表面光电压（SPV）技术对比

MDP（微波探测光电导法）：对可迁移的光生载流子敏感，表征材料体相特性

SPV（表面光电压法）：对空间分离的所有光生载流子（无论可迁移或被捕获）的表面及体相特性均敏感

MDP 方法仅适用于中等掺杂半导体或近完美光学晶体

SPV 方法适用于所有可实现空间电荷分离的光活性材料，（包括半导体、多层和多结结构、分子层、粉体）

MDP 方法可建模为随时间变化的电阻测量（直流），即t_MDP

SPV 方法可建模为随频率和时间变化的电容测量（直流/调制），即 t_SPV

对于非理想半导体（含缺陷），这两种方法的结果可能存在巨大差异，二者互为补充，可分别提供体相与表面特性的关联信息。